Книга в целом представит несомненный интерес для специалистов, как занимающихся производством полупроводниковых устройств, так и разрабатывающих радиоэлектронную аппаратуру на полупроводниках. Она будет полезна и широкому кругу научных работников и инженеров, деятельность которых связана с решением вопросов по увеличению надежности приборов.